| Свойства вакуума |
| Особенности вакуумных систем |
| контрольно-измерительная аппаратура |
| Течеискатели |
| Вакуумные материалы |
| Уплотнители и и смазки |
| Вакуумные вентили и переходники |
| Запорные устройства |
| Способы соединения вакуумных систем |
| Общие принципы |
| Подбор вакуумных насосов |
| Масляные средства откачки |
| Вакуумометрические приборы |
| Вакуумные установки |
| Сорбционные средства откачки |
| Физические явления в вакууме |
| Основные параметры масс-спектрометров |
| Измерение и контроль вакуума - Течеискание и течеискатели | |||||
Cтраница 1 из 3
Параметры масс-спектрометров зависят главным образом от таких факторов, как эффективность ионизации и экстрагирования ионов, степень разделения ионного пучка по массам и эффективность улавливания и регистрации ионов. Особое значение имеют такие рабочие параметры масс-спектрометров, как диапазон анализируемых масс, диапазон рабочих давлений, разрешающая способность, чувствительность, порог чувствительности и относительная чувствительность; они обычно указываются изготовителями приборов. Диапазоны анализируемых масс и рабочих давлений достаточно очевидны и обычно приводятся в виде абсолютных величин безотносительно к разрешающей способности или чувствительности. Разрешающая способность представляет собой способность разделять ионы с молекулярными массами, мало разнящимися между собой, и определяется как отношение массового числа M = m/e к наименьшему разрешаемому изменению массового числа ΔM =Δm/e, т. е. равна M/ΔM. Таким образом, на разрешающую способность могут влиять массовое число и, до некоторой степени, относительные высоты пиков ионов масс-спектра. На практике определение разрешающей способности упрощается, если принять ΔM=1 а. е. м. (атомная единица массы). В этом случае говорят о разрешении пиков с целочисленными массами (например, пиков, соответствующих массам M и М+). Понятие разрешения двух соседних пиков не имеет универсального определения, и, как правило, используются два следующих подхода. Рассматриваются два перекрывающихся пика массой M и M +1 одинаковой высоты и измеряется высота «седловины» между ними относительно высоты пика (в %, рис. 5.2,а). Если требуется высокая точность измерений, особенно в случае пиков разной высоты, то для разрешения считается достаточной 1—2%-ная седловина, а при качественном анализе допустима и 50%-ная седловина.
![]()
Рис. 5.2 Два метода определения разрешающей способности. Пояснения в тексте. Наиболее часто в качестве условия разрешения принимается 10%-ная седловина между двумя перекрывающимися пиками. Таким образом, разрешающая способность масс-спектрометрического анализатора остаточного газа определяется как способноть разделения двух соседних пиков с целочисленными массами при 10%-ной седловине в диапазоне масс 2—200 а. е. м. Поскольку для разрешения наибольших масс требуется самое высокое разрешение, в этом случае говорят, что разрешение прибора составляет (при 10%-ной седловине) 200 ед. |
| = | |